介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

1、特點及性能

介損絕緣試驗可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)以及局部缺陷等，在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預防性試驗中都廣泛應用。

介質(zhì)損耗測量儀用于現(xiàn)場介損測量或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。儀器采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動智能化測量，強干擾下測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，儀器自帶微型打印機可打印輸出測試結(jié)果。

1.1主要技術(shù)指標

額定工作條件：環(huán)境溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機供電

準確度：      Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度

電容量范圍：內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨率：*高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍：不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍： 10μA～5A

內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度：±(1.0%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正、反接線時*大試驗電流5A

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

高電壓介損：支持變頻和諧振電源高電壓介損

實時時鐘：實時顯示時間和日期

內(nèi)部存儲：儀器內(nèi)部可存儲100組測量數(shù)據(jù)

U盤：支持U盤存儲

打印機：微型熱敏打印機

計算機接口：標準RS232接口（選配）

尺寸重量：K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機重量22kg。

其他款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上述為E型主要技術(shù)指標，其它型號技術(shù)指標詳見本章節(jié)“1.3.6各型號測試功能說明”。

1.2 系列型號功能列表

1.3 主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術(shù)，在200%干擾下仍能準確測量，測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，適合在現(xiàn)場做抗干擾介損試驗。

1.3.2高精度測量

采用數(shù)字波形分析和電橋自校準等技術(shù)，配合高精度三端標準電容器，實現(xiàn)高精度介損測量。儀器所有量程輸入電阻低于2Ω，消除了測量電纜附加電容的影響。

1.3.3**措施

高壓保護：試品短路、擊穿或高壓電流波動，能以短路方式高速切斷輸出。

供電保護：誤接380V、電源波動或突然斷電，啟動保護，不會引起過電壓。

接地保護：具有接地檢測功能，未接地時不能升壓，若測量過程中儀器接地**則啟動接地保護。

CVT 保護：高壓側(cè)電壓和電流、低壓側(cè)電壓和電流四個保護限制，不會損壞設(shè)備；誤選菜單不會輸出激磁電壓。CVT測量時無10kV高壓輸出。

防誤操作：兩級電源開關(guān)；電壓、電流實時監(jiān)視；多次按鍵確認；接線端子高/低壓分明；慢速升壓，可迅速降壓，聲光報警。

防“容升”：測量大容量試品時會出現(xiàn)電壓抬高的“容升”效應，儀器能自動跟蹤輸出電壓，保持試驗電壓恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導線，可拖地使用。

抗震性能：儀器采用獨特抗震設(shè)計，可耐受強烈長途運輸震動、顛簸而不會損壞。

1.3.4打印存儲

儀器自帶微型打印機，可以將測量結(jié)果打印輸出，并將測量結(jié)果存貯到儀器內(nèi)（可存儲100組測量數(shù)據(jù)）或U盤，以便日后查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內(nèi)帶實時時鐘，實時顯示，并能記錄測量的日期和時間。

1.3.6各型號測試功能說明

B型：輕便型，高壓*大輸出電流為140mA，具有正接線、反接線功能，可選擇內(nèi)/外標準電容、內(nèi)/外高壓多種工作模式，一體化結(jié)構(gòu)，可做各種常規(guī)介損試驗。

D型：實用型，高壓*大輸出電流為200mA，具有正接線、反接線、反接線低壓屏蔽、CVT自激法，反接線低壓屏蔽功能能在220kV CVT母線接地情況下，對C11進行不拆線10kV反接線介損測量，并可一次接線同時測出兩個電容的電容量和介損值。CVT自激法測量時，C1/C2可一次接線同時測出，無須換線和外接任何配件，但高壓測量線需懸空吊起。

E型：標準型，在D型基礎(chǔ)上增加了CVT變比測試功能，同時升級了CVT自激法測試，現(xiàn)場CVT自激法測試時高壓測量線可拖地使用，無需吊起。

F型：增強型，功能同E型，輸出*高電壓從10kV增加至12kV。

K型：標準型，在E型基礎(chǔ)上減小體積重量，設(shè)備更精巧。

S型：四通道型，功能同E型，增加了3個正接通道。

J型：高精度型，功能同E型，測量準確度為0.5%。

所有型號儀器均具備下述特點：

（1）支持變頻和諧振電源高電壓介損。

（2）內(nèi)置串聯(lián)和并聯(lián)兩種介損測量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打印機，使打印更加快捷、無噪音和清晰。

（4）320×240點陣大屏液晶顯示，菜單操作，測試數(shù)據(jù)豐富，自動分辨電容、電感、電阻型試品。

（5）具有外接標準電容器接口，可外接油杯做精密絕緣油介損試驗，可外接固體材料測量電極做精密絕緣材料介損試驗，也可外接高壓標準電容器做高電壓介損試驗。

（6）帶日歷時鐘，可存儲100組測量數(shù)據(jù)。

（7）計算機接口（選配）。

介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

2、面板說明

高壓輸出測量接地：若出廠配置的高壓測試線有接地屏蔽層，則需將高壓測量線的接地屏蔽層連接至此處，沒有則留空。CVT自激法測量的高壓連線接地屏蔽層在拖地模式下必須接地，非拖地模式下接地屏蔽層應懸空不能接地且高壓測量線也應懸空吊起不能拖地。

高壓輸出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如圖2-1所示，安裝在箱體前側(cè)面。

功    能：內(nèi)高壓輸出；檢測反接線試品電流；內(nèi)部標準電容器的高壓端。

接線方法：插座1腳接高壓線芯線（紅夾子），2、3腳接高壓線屏蔽（黑夾子）。正接線時，高壓線芯線（紅夾子）和屏蔽（黑夾子）都可以用作加壓線；反接線時只能用芯線對試品高壓端加壓。如果試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環(huán)）可接高壓屏蔽，無屏蔽時高壓屏蔽懸空。若配置的高壓測試線有接地屏蔽層，則需將高壓測量線的接地屏蔽層連接至圖2-1中的“1”處。

注意事項：

（1）若儀器CVT自激法高壓連線具備“高壓拖地”功能，使用拖地模式測量時務必使用原廠配置的專用高壓電纜（原廠電纜在出廠時已進行校準），不可使用其它高壓電纜代替，否則會引起較大的測量誤差。CVT自激法不使用拖地模式時，高壓電纜必須懸空，接地屏蔽層也不能接地！

（2）高壓插座和高壓線有危險電壓，**禁止碰觸高壓插座、電纜、夾子和試品帶電部位！確認斷電后接線，測量時務必遠離！

（3）用標準介損器（或標準電容器）檢定反接線精度時，應使用全屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線會引起測量誤差。

（4）應保證高壓線與試品高壓端零電阻連接，否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動，也可能引起儀器保護。

（5）強干擾下拆除接線時，應在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接，以防感應電擊。

CVT自激法低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的接地接線柱“4”輸出CVT測量的低壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低壓輸出電流大，應采用儀器專用低阻線連接CVT二次繞組，接觸**會影響測量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電壓電流保護限。

（3）選擇正/反接線時，此輸出封閉。

測量接地：它同外殼和電源插座地線連到一起，與圖2-1的“3”一起輸出CVT測量的低壓變頻激勵電源。盡管儀器有接地保護，但無論何種測量，儀器都應可靠獨立接地以保障使用者的**及測量結(jié)果的準確。

打印機：微型熱敏打印機，用于打印測試數(shù)據(jù)。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機聯(lián)機使用。

U盤：用于外接U盤保存數(shù)據(jù)。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時輸入試品電流。

接線方法：插座1腳接測量線芯線（紅夾子），2、3腳接測量線屏蔽（黑夾子）。正接線時芯線（紅夾子）接試品低壓信號端，如果試品低壓端有屏蔽極（如低壓端的屏蔽環(huán)）可接屏蔽，試品無屏蔽時屏蔽懸空。

注意事項：

（1）測量中嚴禁拔下插頭，防止試品電流經(jīng)人體入地！

（2）用標準介損器（或標準電容器）檢測儀器正接線精度時，應使用全屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線會引起測量誤差。

（3）應保證引線與試品低壓端0電阻連接，否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動，也可能引起儀器保護。

（4）強干擾下拆除接線時，應在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接，以防感應電擊。

標準電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標準電容器電流。

接線方法：與Cx插座類似，其區(qū)別在于：

（1）使用外部標準電容器時，應使用全屏蔽插頭連接。此方式常用于外接高電壓等級標準電容器，實現(xiàn)高電壓介損測量。

（2）菜單選擇“外標準電容”方式。

（3）將外接標準電容器的C和tgδ置入儀器，實現(xiàn)Cx電容介損的**值測量。

從理論上講，任何容量和介損的電容器，將參數(shù)置入儀器都可做標準電容器。不同的是標準電容器能提供更好的長期穩(wěn)定性和精度。

（4）不管正接線還是反接線測量，標準電容器接線方式始終為正接線。

總電源開關(guān)：開關(guān)機用，可在發(fā)現(xiàn)異常時隨時關(guān)閉。

供電電源插座：接220V市電，插座內(nèi)置保險絲座，保險絲規(guī)格為10A / 250V，若損壞應使用相同規(guī)格的保險絲替換。若換用備用保險絲后仍燒斷，可能儀器有故障，可通知廠家處理。

高壓允許開關(guān)：內(nèi)置高壓系統(tǒng)或CVT自激法低壓輸出系統(tǒng)的總電源開關(guān)。此開關(guān)受總電源開關(guān)控制。

按鍵：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可移動光標和修改光標處內(nèi)容，“確認”鍵用于確認或結(jié)束參數(shù)修改，在測試界面長按該鍵可開始測量，測量過程中，按“確認”鍵可終止測量。

液晶顯示屏：320×240點陣灰白背光液晶顯示屏，顯示菜單、測量結(jié)果或出錯信息。應避免長時間陽光爆曬，避免重壓。

背光調(diào)節(jié)：液晶顯示屏顯示較暗或不清晰時可調(diào)節(jié)該電位器至合適位置使顯示明亮清晰。

指示燈：配合儀器內(nèi)部蜂鳴器進行測試、報警等聲光警示。

介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

3、使用說明

3.1初始菜單界面

打開總電源開關(guān)后，系統(tǒng)進入初始菜單界面。

測試模式：選擇測試模式和設(shè)置各項測試參數(shù)，

歷史記錄：查看保存的歷史數(shù)據(jù)

系統(tǒng)設(shè)置：出廠參數(shù)設(shè)置及系統(tǒng)時間校準

幫    助：可查閱軟件版本等信息

取消或使用CVT自激法“高壓連線拖地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發(fā)“發(fā)電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發(fā)電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發(fā)電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發(fā)電機模式適合使用發(fā)電機或移動電源供電環(huán)境，發(fā)電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜單界面

在初始菜單界面將光標移動到“測試模式”按確定按鈕進入開始測試菜單界面，如圖3-2所示。

界面左側(cè)為參數(shù)設(shè)置選項，移動光標到相關(guān)參數(shù)選項按確定鍵可設(shè)置相關(guān)試驗參數(shù)，右側(cè)顯示內(nèi)容為已設(shè)置好試驗參數(shù)，光標停留在“開始測試”欄長按“確認” 鍵可開始測試。

界面右側(cè)“測試地點”下一行為信息提示行，若內(nèi)外高壓選擇有誤則提示“當前為內(nèi)高壓模式，請開啟內(nèi)高壓”或“當前為外高壓模式，請關(guān)閉內(nèi)高壓”；若儀器沒有接地則會提示“請檢查接地”，當有錯誤提示時儀器無法正常啟動，只有提示“確認無誤后長按確認鍵開始測試”時儀器方可啟動測試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界面

將光標移動到“試品模型”功能選項，界面如圖3-3所示，按“確認”按鈕后移動光標可選擇合適的試品模型（光標移動到相應功能后按確認鍵）。實驗室一般使用串聯(lián)型介損因數(shù)標準器檢定，校驗時應使用RC串聯(lián)模型。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)：采用電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校準的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標準器)，該項在開始測試界面顯示"RC串聯(lián)"。

RC串聯(lián)(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

RC并聯(lián)(現(xiàn)場使用)：一般實際的電容試品可等效為RC并聯(lián)模型，建議現(xiàn)場試驗時使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標準器)的區(qū)別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式選擇菜單界面

將光標移動到“接線方式”功能選項，界面如圖3-4所示，按“確認”按鈕后移動光標可選擇合適的接線方式。

接線方式：共5種接線方式（功能因型號有差別，具體詳見型號功能說明部分），分別為：正接線、反接線、反接線低壓屏蔽、CVT自激法和變比。選擇CVT自激法測量時需同時將相關(guān)參數(shù)一并設(shè)置好。

CVT自激法測量必須打開內(nèi)高壓允許開關(guān)，由機內(nèi)提供激勵電壓，由“低壓輸出”和“測量接地”輸出。為**起見，CVT自激法還需要設(shè)置以下幾個保護限：

將光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只能使用4kV以下電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試品的高壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激勵電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵電流上限。

注意：

（1）測量時4個保護限同時起作用，因此試驗高壓可能達不到設(shè)定值。如果高壓達不到保護限，可適當調(diào)整受到限制的保護限。

（2）通常測量C1時低壓激勵電壓可達20V，測量C2時低壓激勵電流可達15A。一般可設(shè)高壓電壓2～3kV，較少采用高壓電流限制，可設(shè)為*大200mA。

變比測量時應選擇合適的高壓輸出使二次側(cè)電壓小于120V，當二次側(cè)電壓≥120V時儀器會發(fā)出聲光報警并提示“接線錯誤”。

3.2.4 標準電容選擇菜單界面

將光標移動到“標準電容”功能選項，界面如圖3-5所示，按“確認”按鈕后移動光標可選擇合適的標準電容。選擇外標準電容時需同時將外標準的電容量和介損一并設(shè)置好。

選擇外標準電容時將光標移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認鍵退出。

Cn采用科學計數(shù)法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(shè)置范圍0～±9.999%。

內(nèi)標準電容通常可用于正、反接線測量和CVT自激法測量，高電壓介損選用外標準方式，需要將外接電容參數(shù)置入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界面

測試頻率可選擇定頻或異頻，頻率選擇菜單界面如圖3-6所示，頻率選擇范圍如下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量，此設(shè)置不能抗干擾，在試驗室內(nèi)測量或校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測量，研究不同頻率下介損的變化時選用。

頻率自適應：外高壓測量模式下有效（不能更改），系統(tǒng)自動識別外施高壓頻率，測試頻率無需在測試前設(shè)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

“55/65Hz”：為自動變頻，適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

3.2.6 測試電壓選擇菜單界面

內(nèi)高壓可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓為12kV），應根據(jù)高壓試驗規(guī)程選擇合適的試驗電壓。

注：若選擇“CVT自激法”測試功能，則該選項無效。CVT自激法的相關(guān)電壓參數(shù)需在該功能選項下進行設(shè)置。

3.2.7 測試備忘設(shè)置菜單界面

設(shè)備編號：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號，將光標移動到”設(shè)備編號”處，按確認健進入設(shè)備編號設(shè)置，通過“←”、“→”健移動光標，通過↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認鍵退出。

測試人員：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號，將光標移動到” 測試人員”處，按確認健進入測試人員設(shè)置，通過“←”、“→”健移動光標，通過↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認鍵退出。

測試地點：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號，將光標移動到” 測試地點”處，按確認健進入測試地點設(shè)置，通過“←”、“→”健移動光標，通過↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認鍵退出。

3.2.8 測試結(jié)果界面

3.2.8.1反接法測試結(jié)果界面

測試完成顯示結(jié)果后，可移動光標選擇保存或打印數(shù)據(jù)。

儀器自動分辨電容、電感、電阻型試品：電容型試品顯示Cx和tgδ；電感型試品顯示Lx和Q；電阻型試品顯示Rx和附加Cx或Lx。自動選取顯示單位。

試品為電容時：顯示數(shù)據(jù)為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并聯(lián)電阻

試品為電感時：顯示數(shù)據(jù)為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感和串聯(lián)電阻

試品為電阻時：顯示數(shù)據(jù)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ   介損因數(shù)[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q     品質(zhì)因數(shù)[無單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix    試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ     試品電流超前試驗電壓的角度[°度]或測變比時一次電壓超前二次電壓的角度

K     測CVT變比時，一次電壓比二次電壓

f1    頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

f2    頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

顯示over表示測量數(shù)據(jù)超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結(jié)果界面

反接線低壓屏蔽測試一次接線可同時測出C11和C下節(jié)(下端屏蔽部分)的電容量和介損值。

3.2.8.3 CVT自激法測試結(jié)果界面

CVT自激法按測量接線，與試品輸入Cx插座連接的定義為C1，與高壓線連接的為C2。U1為測量C1時的高壓，U2為測量C2時的高壓。

3.3歷史數(shù)據(jù)

進入歷史數(shù)據(jù)菜單界面如圖3-12所示。

移動光標到“U盤”選項按“確定”鍵可將數(shù)據(jù)導出到U盤，上移到“清空”選項按“確定”鍵可清空保存的全部數(shù)據(jù)。將光標移動到“>>>>”選項按下“確定”鍵進入數(shù)據(jù)選擇界面，光標位置默認停留在*近保存的單條數(shù)據(jù)上，若要查看其他數(shù)據(jù)可上下移動光標進行選擇，選擇好要查看的數(shù)據(jù)后按“確定”按鈕進入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。歷史數(shù)據(jù)選擇界面和單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面如圖3-13和圖3-14所示。

進入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面后，在左側(cè)功能選項區(qū)上下移動光標可選擇打印、刪除本條數(shù)據(jù)和退出單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。

3.4系統(tǒng)設(shè)置

進入系統(tǒng)設(shè)置菜單可進行系統(tǒng)時間校準，“出廠設(shè)置”參數(shù)禁止用戶修改，只允許生產(chǎn)廠家進行出廠參數(shù)設(shè)置。

3.5幫助

可查看儀器的相關(guān)操作指導。

3.6啟動測量

進入測試界面設(shè)置好各項試驗參數(shù)后，將光標移動到“開始測試”功能選項上，按住“確認”鍵3s以上啟動測量。

啟動測量后發(fā)出聲光報警；在測試過程中會實時顯示測試相關(guān)參數(shù)（電壓、電流、頻率、電容量等參數(shù)）和測量進程(0%～99%)。

測量中按“確認”鍵可取消測量，遇緊急情況立即關(guān)閉總電源。

測量過程結(jié)束，儀器自動降壓后再顯示結(jié)果。

3.7對比度調(diào)節(jié)

液晶顯示屏的對比度已在出廠時校好，如果您感覺不夠清晰，調(diào)整面板上的電位器使液晶顯示屏顯示內(nèi)容清晰為止。

介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

4、參考接線

4.1常規(guī)正接線（正接線、內(nèi)標準電容、內(nèi)高壓）

4.2常規(guī)反接線（反接線、內(nèi)標準電容、內(nèi)高壓）

4.3正接線、外標準電容、內(nèi)高壓

4.4反接線、外標準電容、內(nèi)高壓

4.5正接線、內(nèi)標準電容、外高壓

4.6反接線、內(nèi)標準電容、外高壓

4.7正接線、外標準電容、外高壓（高電壓介損）

4.8反接線、外標準電容、外高壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母線接地情況下，對C11進行不拆線10kV反接線介損測量。如下圖所示：母線掛地線，C11上端不拆線，C11下端接高壓線芯線，C2末端δ和X接Cx芯線。這樣C12和C2被低壓屏蔽，儀器采用反接線低壓屏蔽測量方式，可同時測出C11和下端被屏蔽部分的電容量和介損值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯線接C2下端，Cx芯線接C12上端。在CVT 自激法測量中，儀器先測量C12，然后自動倒線測量C2，并自動校準分壓影響。

1）D型高壓連線不可拖地，高壓線應懸空不能接觸地面（高壓線的接地屏蔽層插頭必須懸空），否則其對地附加介損會引起誤差，可用細電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地，CVT下端接地，低壓線紅黑夾子接二次繞組。

介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

5、常見CVT的參考測量方法

目前常見的電容式電壓互感器可分為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級，一般110kV的CVT其C1就一節(jié)，220kV的CVT其C1有兩節(jié)，而500kV的CVT其C1有三節(jié)。

5.1  500kV CVT的測量方法

1）C11的測量方法

按圖5-1標明的方式接線，測量C11時應注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點接紅色高壓測試線的芯線（紅夾子），b點接紅色高壓測試線的高壓屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測量方法

按圖5-2標明的方式接線，測量C12時注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點接紅色高壓測試線芯線（紅夾子），b點接黑色低壓測試線芯線（紅夾子）

3）C13和C2的測量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測試。按圖5-3標明的方式接線，儀器選用CVT自激法測量方式，試驗電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測量C13和C2兩個電容的介損和電容量。

5.2  220kV CVT的測量方法

1）C11的測量方法

按圖5-4標明的方式接線，測量C11時注意：

◇ δ和X相連，與接地分開。

◇ a點接紅色高壓測試線的芯線（紅夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測試。按圖5-5標明的方式接線，儀器選用CVT自激法測量方式，試驗電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測量C12和C2兩個電容的介損和電容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測試。按圖5-6標明的方式接線，儀器選用CVT自激法測量方式，試驗電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測量C13和C2兩個電容的介損和電容量。

介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

6、現(xiàn)場試驗注意事項

如果使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理，請從以下方面查找原因：

6.1搭鉤接觸**

現(xiàn)場測量使用搭鉤連接試品時，搭鉤務必與試品接觸良好，否則接觸點放電會引起數(shù)據(jù)嚴重波動！尤其是引流線氧化層太厚，或風吹線擺動，易造成接觸**。

6.2接地接觸**

接地**會引起儀器保護或數(shù)據(jù)嚴重波動。應刮凈接地點上的油漆和銹蝕，務必保證0電阻接地！

6.3直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直接測量CVT的下節(jié)耦合電容會出現(xiàn)負介損，消除負介損可采取下述措施或改用CVT自激法測量：

1）測試時測量儀器的接地端直接接在被試品的金屬底座上，并保證接觸良好。

2）條件允許時盡可能將非被試繞組短接，以減小電感和鐵心損耗的影響。

3）被試品周圍不應有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡可能減小分布阻抗的影響。

4）試驗引線與被試品的夾角應盡可能接近90°，以減小線與試品間的分布電容。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測量。

6.4空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增大（或減小甚至為負）且不穩(wěn)定，必要時可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布，此法有爭議，可參照有關(guān)規(guī)程。

6.5發(fā)電機供電

發(fā)電機供電時可采用定頻50Hz模式工作。

6.6測試線

1）由于長期使用，易造成測試線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶應經(jīng)常維護測試線。

2）測試標準電容試品時，應使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映儀器精度。

3）自激法測量CVT時，若使用“高壓連線拖地”功能，請務必使用原廠配置的專用高壓電纜（原廠電纜在出廠時已進行校準），高壓連線的接地屏蔽層必須接地，不可使用其它高壓電纜代替，否則會引起較大的測量誤差。若拖地模式下測量誤差較大，則需將專用高壓電纜返廠重新進行校準。

4）自激法測量CVT時，非專用的高壓線應吊起懸空，否則對地附加雜散電容和介損會引起測量誤差。使用專用電纜在非拖地模式下測量CVT，高壓電纜也應懸空且電纜的接地屏蔽層不能接地，否則會引起較大的測量誤差。

6.7工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式，不可選錯。特別是干擾環(huán)境下應選用變頻抗干擾模式。

6.8試驗方法影響

由于介損測量受試驗方法影響較大，應區(qū)分是試驗方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時可首先檢查接線，然后檢查是否為儀器故障。

6.9儀器故障

1）用萬用表測量一下測試線是否斷路，或芯線和屏蔽是否短路；

2）輸入電源220V過高或過低；接地是否良好；

3）用正、反接線測一下標準電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒有問題；

4）拔下所有測試導線，進行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。

介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應用性

7、儀器檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標準損耗器。如果不能保證標準損耗器的精度，應使用比對法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對標準。

1）介質(zhì)損耗因數(shù)標準器一般為串聯(lián)模型，因此儀器的試品模型應選擇“RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)”或“RC串聯(lián)(西林型電橋)”。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)：采用電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校準的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標準器)，該項在開始測試界面顯示"RC串聯(lián)"。

    RC串聯(lián)(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標準器)的區(qū)別只是電容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質(zhì)損耗因數(shù)標準器（或標準電容器）檢定儀器反接線精度時，高壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會引起測量誤差。

3）用介質(zhì)損耗因數(shù)標準器（或標準電容器）檢定儀器正接線精度時，低壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會引起測量誤差。

嚴格按照上述要求檢定方能真實反映本儀器的測量精度！

7.2抗干擾能力

設(shè)置一個回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動后會使220V供電電路帶有測量頻率分量，如果該頻率分量又通過干擾電流進入儀器，則無法檢驗儀器的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導體施加干擾，因為這樣很容易產(chǎn)生近距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。