高頻媒介損耗調(diào)試儀是利用諧振法的原理來量測媒介材料的媒介常數(shù)和損耗角正切的精密儀器。它利用導(dǎo)納變化時(shí)，回路諧振曲線所呈現(xiàn)出的尖銳程度來衡量媒介的電物理性質(zhì)。由于量測時(shí)所引入的計(jì)算機(jī)公式中介電常數(shù)ε和損耗角正切tgδ值僅僅取決于調(diào)試電路內(nèi)電容讀數(shù)的比例，而不引入頻率參數(shù)量，所以能使該儀器在很寬的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行量測。
本儀器有兩套調(diào)試電容器夾具，一套為調(diào)試固體材料的夾具，一套為調(diào)試液體材料的夾具。下面簡單的介紹一下它的運(yùn)作原理。
這種儀器的電原理圖。被測媒介材料的試樣夾在調(diào)試夾具之內(nèi)，形成電容量為Cp的電容器。Cp與調(diào)試回路的耦合線圈L、電阻（線圈的損耗電阻）及指示器（電壓表）并聯(lián)。振蕩器與調(diào)試電路采用的互感耦合，而且耦合的很輕松，一防止振蕩器的輸出受調(diào)試電路變化的影響。在T1和T2是電路中所有并聯(lián)元件的公共點(diǎn)。在線路中所有的電感和損耗都用等效的L和R來表示。線圈以外的外回路，即Cp、C2以及電壓表V等都用等效的G和C來表示。振蕩器的高周波信號(hào)通過電感耦合，在調(diào)試回路兩端感應(yīng)一個(gè)電壓U？，在U？的作用下，外電路流過一定的電流：在電路中，如果改變電容量C1，并使其達(dá)到諧振時(shí)的數(shù)值，則諧振回路的總電容為：
此時(shí)，電壓表的指示值Uo*大，并等于諧振電壓U1：用C和U分別表示在失諧狀態(tài)下所對應(yīng)的電容量及電壓值，就可以得到由于高頻阻抗電橋和高頻媒介損耗調(diào)試儀可以再很寬的頻率范圍內(nèi)任選頻率，而且可以材料媒介損耗比較大的材料，因此，它對于媒介加熱技術(shù)的運(yùn)作對象進(jìn)行量測具有較大的實(shí)用價(jià)值。與之相比，Q表則對tgδ較小的絕緣材料進(jìn)行量測比較適用。
一般來說，在媒介加熱技術(shù)中對媒介進(jìn)行調(diào)試的目的有兩個(gè)：**個(gè)目的是研究媒介本身的電物理性質(zhì)。從而研究如何選擇適當(dāng)?shù)募訜犷l率、計(jì)算功率密度和加熱條件，研究在加熱過程中電物理性質(zhì)的變化。因此，在量測時(shí)必須按照要求制作標(biāo)準(zhǔn)調(diào)試樣品，以便能對ε和tgδ進(jìn)行準(zhǔn)確的量測。
**個(gè)目的是要求通過量測知道盛放被加熱媒介的實(shí)際運(yùn)作電容量的等效電容和等效電阻以及在加熱過程中參量的變化情況，以便依據(jù)實(shí)測值設(shè)計(jì)振蕩器及負(fù)載匹配系統(tǒng)。所以，后一種量測不必制成試樣，而要求環(huán)境條件及調(diào)試條件盡量接近于實(shí)際運(yùn)作的條件。
有時(shí)，這兩個(gè)目的是一致的或者進(jìn)行簡單的計(jì)算便能互相變換。例如，在電木粉加熱的情況下就是這樣。但是，多數(shù)情況是不一樣的，例如糧食烘干，為了量測出糧食的ε和 tgδ值及其隨頻率與溫度的變化，我們必須把顆粒狀的糧食磨成粉，軋成餅狀試樣進(jìn)行量測。但在實(shí)際運(yùn)作中，
運(yùn)作電容器內(nèi)盛放的卻是顆粒狀糧食。所以，量測運(yùn)作電容器的等效參數(shù)時(shí)必須在盛放有顆粒狀糧食的情況下進(jìn)行。在**種情況下，主要使用Q表和高頻阻抗電橋。調(diào)試原理及方法同上訴完全一樣。因此，在第三章中介紹運(yùn)作電容器時(shí)就不重復(fù)了。
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